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文献
J-GLOBAL ID：201402237762593337
整理番号：14A0994524
低いウエハ性能の起因および産業用モノライクシリコンインゴットのシードキャスト成長における結晶欠陥生成について
About the origin of low wafer performance and crystal defect generation on seed-cast growth of industrial mono-like silicon ingots
GUERRERO Ismael
(DC Wafers Investments, S.L., Leon, ESP)
,
PARRA Vicente
(DC Wafers Investments, S.L., Leon, ESP)
,
CARBALLO Teresa
(DC Wafers Investments, S.L., Leon, ESP)
,
BLACK Andres
(DC Wafers Investments, S.L., Leon, ESP)
,
MIRANDA Miguel
(DC Wafers Investments, S.L., Leon, ESP)
,
CANCILLO David
(DC Wafers Investments, S.L., Leon, ESP)
,
MORALEJO Benito
(Univ. Valladolid, Valladolid, ESP)
,
JIMENEZ Juan
(Univ. Valladolid, Valladolid, ESP)
,
LELIEVRE Jean-Francois
(Universidad Politecnica de Madrid, Madrid, ESP)
,
DEL CANIZO Carlos
(Universidad Politecnica de Madrid, Madrid, ESP)
資料名：
Progress in Photovoltaics
(Progress in Photovoltaics)
巻： 22 号： 8 ページ： 923-932 発行年： 2014年08月
JST資料番号： W0463A ISSN： 1062-7995 CODEN： PPHOED 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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