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文献
J-GLOBAL ID：201402239799926010
整理番号：14A1484323
CdZnTe検出器性能を改善するためのTe介在物を制御するための冷却プロセス最適化
Cooling process optimization to control Te inclusions for improving CdZnTe detector performance
LIANG Xiao-yan
,
MIN Jia-hua
,
YANG Sheng
,
ZHANG Ji-jun
,
WANG Lin-jun
,
ZHAO Yue
,
SHI Wei-min
資料名：
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻： 30 ページ： 14-17 発行年： 2015年02月
JST資料番号： W1055A ISSN： 1369-8001 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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