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文献
J-GLOBAL ID：201402244790500448
整理番号：14A0050036
CaF2単結晶基板上に堆積したFeSe0.5Te0.5薄膜中のトラップされたフラクソイドの走査SQUID顕微鏡による解析
Analysis of trapped fluxoids in FeSe0.5Te0.5 thin film deposited on a CaF2 single crystalline substrate by scanning SQUID microscopy
KIM Gracia
(Kyushu Univ.)
,
INOUE Masayoshi
(Kyushu Univ.)
,
IMAMURA Kazutaka
(Kyushu Univ.)
,
HIGASHIKAWA Kohei
(Kyushu Univ.)
,
KISS Takanobu
(Kyushu Univ.)
,
BRACCINI Valeria
(CNR-SPIN Genova)
,
BELLINGERI Emilio
(CNR-SPIN Genova)
,
PUTTI Marina
(CNR-SPIN Genova)
資料名：
低温工学・超電導学会講演概要集
(低温工学・超電導学会研究発表会講演概要集)
巻： 88th ページ： 221 発行年： 2013年12月04日
JST資料番号： G0564B ISSN： 0919-5998 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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