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文献
J-GLOBAL ID：201402245888697777
整理番号：14A1506421
蛍光X線ホログラフィを用いて調査した強磁性半導体Ge0.6Mn0.4Te膜の歪のある,及び歪のない原子サイト
Distorted and Undistorted Atomic Sites in a Ferromagnetic Semiconductor Ge0.6Mn0.4Te Film Determined by X-ray Fluorescence Holography
HAPPO Naohisa
(Hiroshima City Univ., Hiroshima, JPN)
,
HAYASHI Kouichi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SENBA Shinya
(Ube National Coll. Technol., Yamaguchi, JPN)
,
SATO Hitoshi
(Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN)
,
SUZUKI Motohiro
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst. (JASRI/SPring-8), Hyogo, JPN)
,
HOSOKAWA Shinya
(Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN)
資料名：
Journal of the Physical Society of Japan
(Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 83 号： 11 ページ： 113601.1-113601.4 発行年： 2014年11月15日
JST資料番号： G0509A ISSN： 0031-9015 CODEN： JUPSA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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