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文献
J-GLOBAL ID:201402251512866799   整理番号:14A0450752

ナノ多孔質触媒を使用し金属支援化学的エッチングによるシリコン上の高アスペクト比で均一な垂直トレンチエッチング

Uniform Vertical Trench Etching on Silicon with High Aspect Ratio by Metal-Assisted Chemical Etching Using Nanoporous Catalysts
著者 (6件):
LI Liyi
(Georgia Inst. Technol., Georgia, USA)
LIU Yan
(Georgia Inst. Technol., Georgia, USA)
ZHAO Xueying
(Georgia Inst. Technol., Georgia, USA)
LIN Ziyin
(Georgia Inst. Technol., Georgia, USA)
WONG Ching-Ping
(Georgia Inst. Technol., Georgia, USA)
WONG Ching-Ping
(Chinese Univ. Hong Kong, HKG)

資料名:
ACS Applied Materials & Interfaces  (ACS Applied Materials & Interfaces)

巻:号:ページ: 575-584  発行年: 2014年01月08日 
JST資料番号: W2329A  ISSN: 1944-8244  CODEN: AAMICK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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