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文献
J-GLOBAL ID：201402251967859928
整理番号：14A0289381
サファイア基板上のLi2SiO3薄膜のTEM観測およびイオン伝導
TEM Observation and Ionic Conductivity Study of Li2SiO3 Thin-Film on Sapphire Substrate
FURUSAWA Shin-ichi
(Gunma Univ., Kiryu, JPN)
,
TSURUI Takao
(Nagaoka Univ. Technol., Nagaoka, JPN)
,
SHIMIZU Kouhei
(Gunma Univ., Kiryu, JPN)
資料名：
Key Engineering Materials
(Key Engineering Materials)
巻： 596 ページ： 15-20 発行年： 2014年
JST資料番号： D0744C ISSN： 1013-9826 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： スイス (CHE) 言語： 英語 (EN)
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