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文献
J-GLOBAL ID：201402259907592133
整理番号：14A1122190
ナノ触診AFMとその定量的な機械特性のマッピング
Nano-palpation AFM and its quantitative mechanical property mapping
NAKAJIMA Ken
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ITO Makiko
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
WANG Dong
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
LIU Hao
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
NGUYEN Hung Kim
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
LIANG Xiaobin
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KUMAGAI Akemi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
FUJINAMI So
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
Microscopy
(Microscopy)
巻： 63 号： 3 ページ： 193-207 発行年： 2014年06月
JST資料番号： W1384A ISSN： 2050-5698 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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