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J-GLOBAL ID：201402260243434274 整理番号：14A0046435

ジャンクションレストランジスタにおけるNEGF法を用いたデバイスシミュレーション-不純物散乱と遮蔽の影響の考察-

NEGF Simulation for Studying Effect of Screening and Impurity Scattering in Junctionless Transistors

著者 (5件)：

植田暁子

(筑波大)

LUISIER Mathieu

(チューリッヒ工科大)

吉田勝尚

(筑波大)

本多周太

(筑波大)

佐野伸行

(筑波大)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 113 号： 296(SDM2013 99-115) ページ： 61-64 発行年： 2013年11月07日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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