文献
J-GLOBAL ID:201402268864246839
整理番号:14A0007905
硬X線光電子分光法を用いたCdSとCu2ZnSnS4の界面におけるバンドオフセットの直接測定
Direct measurement of band offset at the interface between CdS and Cu2ZnSnS4 using hard X-ray photoelectron spectroscopy
著者 (7件):
TAJIMA Shin
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
,
KATAOKA Keita
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
,
TAKAHASHI Naoko
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
,
KIMOTO Yasuji
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
,
FUKANO Tatsuo
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
,
HASEGAWA Masaki
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
,
HAZAMA Hirofumi
(Toyota Central Res. and Dev. Laboratories, Inc., Nagakute, Aichi 480-1192, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
103
号:
24
ページ:
243906-243906-4
発行年:
2013年12月09日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)