文献
J-GLOBAL ID:201402270752502462
整理番号:14A0682475
Dark CELIV法による有機半導体薄膜の縦方向移動度評価
Vertical mobility measurement in organic semiconductor thin films by using Dark CELIV method
著者 (3件):
片桐千帆
(山形大 大学院理工学研究科)
,
中山健一
(山形大 大学院理工学研究科)
,
中山健一
(山形大 有機エレクトロニクス研究セ)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
114
号:
12(ED2014 1-17)
ページ:
27-30
発行年:
2014年04月10日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)