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文献
J-GLOBAL ID:201402272413538442   整理番号:14A0056064

長/短チャネルn-FinFETにおけるチャネルホットキャリア劣化メカニズム

Channel Hot Carrier Degradation Mechanism in Long/Short Channel n-FinFETs
著者 (11件):
CHO Moonju
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
ROUSSEL Philippe
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
KACZER Ben
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
DEGRAEVE Robin
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
FRANCO Jacopo
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
AOULAICHE Marc
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
CHIARELLA Thomas
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
KAUERAUF Thomas
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
HORIGUCHI Naoto
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
GROESENEKEN Guido
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
GROESENEKEN Guido
(Katholieke Universiteit, Leuven, BEL)

資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Transactions on Electron Devices)

巻: 60  号: 12  ページ: 4002-4007  発行年: 2013年12月 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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