文献
J-GLOBAL ID:201402272413538442
整理番号:14A0056064
長/短チャネルn-FinFETにおけるチャネルホットキャリア劣化メカニズム
Channel Hot Carrier Degradation Mechanism in Long/Short Channel n-FinFETs
著者 (11件):
CHO Moonju
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
ROUSSEL Philippe
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
KACZER Ben
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
DEGRAEVE Robin
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
FRANCO Jacopo
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
AOULAICHE Marc
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
CHIARELLA Thomas
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
KAUERAUF Thomas
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
HORIGUCHI Naoto
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
GROESENEKEN Guido
(Interuniversity Microelectronics Center, Leuven, BEL)
,
GROESENEKEN Guido
(Katholieke Universiteit, Leuven, BEL)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
60
号:
12
ページ:
4002-4007
発行年:
2013年12月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)