文献
J-GLOBAL ID:201402273486979630
整理番号:14A1224878
GaNおよびSiCパワーデバイスにおける信頼性問題
Reliability issues in GaN and SiC power devices
著者 (1件):
UEDA Tetsuzo
(Panasonic Corp., Osaka, JPN)
資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
2014 Vol.1
ページ:
260-265
発行年:
2014年
JST資料番号:
A0631A
ISSN:
1541-7026
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)