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J-GLOBAL ID：201402276041665626 整理番号：14A0561575

マイクロチャンネル冷却構造体のECTを用いた非破壊検査

著者 (3件)：

森谷信一

(宇宙航空研究開発機構)

HE Dongfeng

(物質・材料研究機構)

志波光晴

(物質・材料研究機構)

資料名：

日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM) (日本機械学会年次大会(CD-ROM))

巻： 2012 ページ： ROMBUNNO.G030094 発行年： 2012年09月08日
JST資料番号： X0587C ISSN： 2424-2667 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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