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文献
J-GLOBAL ID：201402283524001342
整理番号：14A0701415
22nm CMOSによる100%安定なセキュアな鍵生成のための0.19pJ/s PVT変動耐性ハイブリッド型の物理的にクローン不可能な機能回路
A 0.19pJ/b PVT-Variation-Tolerant Hybrid Physically Unclonable Function Circuit for 100% Stable Secure Key Generation in 22nm CMOS
MATHEW Sanu K.
(Intel, OR)
,
SATPATHY Sudhir K.
(Intel, OR)
,
ANDERS Mark A.
(Intel, OR)
,
KAUL Himanshu
(Intel, OR)
,
HSU Steven K.
(Intel, OR)
,
AGARWAL Amit
(Intel, OR)
,
CHEN Gregory K.
(Intel, OR)
,
PARKER Rachael J.
(Intel, OR)
,
KRISHNAMURTHY Ram K.
(Intel, OR)
,
DE Vivek
(Intel, OR)
資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE International Solid-State Circuits Conference
(Digest of Technical Papers. IEEE International Solid-State Circuits Conference)
巻： 2014 ページ： 278-279,279(1) 発行年： 2014年
JST資料番号： D0753A ISSN： 0193-6530 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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