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文献
J-GLOBAL ID：201402286702899721
整理番号：14A0147017
FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ
Efficient Scan-Based BIST Architecture for Application-Dependent FPGA Test
伊藤渓太
(奈良先端科学技術大学院大)
,
伊藤渓太
(JST-CREST)
,
米田友和
(奈良先端科学技術大学院大)
,
米田友和
(JST-CREST)
,
大和勇太
(奈良先端科学技術大学院大)
,
大和勇太
(JST-CREST)
,
畠山一実
(奈良先端科学技術大学院大)
,
畠山一実
(JST-CREST)
,
井上美智子
(奈良先端科学技術大学院大)
,
井上美智子
(JST-CREST)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 113 号： 353(DC2013 68-78) ページ： 1-6 発行年： 2013年12月06日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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