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文献
J-GLOBAL ID：201402294788605850
整理番号：14A0218260
小面積接着前TSV試験と1GHz標本化完全ディジタル雑音ンモニタによる12.8GB/sワイドIO DRAMコントローラ用可試験性改良
Testability Improvement for 12.8GB/s Wide IO DRAM Controller by Small Area Pre-bonding TSV Tests and a 1GHz Sampled Fully Digital Noise Monitor
NOMURA Takao
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
MORI Ryo
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
ITO Munehiro
(Renesas Micro Systems Corp., Kanagawa, JPN)
,
TAKAYANAGI Koji
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
OCHIAI Toshihiko
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
FUKUOKA Kazuki
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
OTSUGA Kazuo
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
NII Koji
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
MORITA Sadayuki
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
HASHIMOTO Tomoaki
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
KIDA Tsuyoshi
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
YAMADA Junichi
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
,
TANAKA Hideki
(Renesas Electronics Corp., Tokyo, JPN)
資料名：
Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference
(Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference)
巻： 2013 Vol.1 ページ： 453-456 発行年： 2013年
JST資料番号： H0843A ISSN： 0886-5930 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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