文献
J-GLOBAL ID:201502202870639882
整理番号:15A1172295
半導体ナノワイヤの原子スケールトモグラフィー
Atomic-scale tomography of semiconductor nanowires
著者 (4件):
QU Jiangtao
(School of Physics, The Univ. of Sydney, New South Wales 2006, AUS)
,
RINGER Simon
(Australian Centre for Microscopy & Microanalysis, The Univ. of Sydney, New South Wales 2006, AUS)
,
RINGER Simon
(School of Aerospace, Mechanical and Mechatronic Engineering, The Univ. of Sydney, New South Wales 2006, AUS)
,
ZHENG Rongkun
(School of Physics, The Univ. of Sydney, New South Wales 2006, AUS)
資料名:
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻:
40
ページ:
896-909
発行年:
2015年12月
JST資料番号:
W1055A
ISSN:
1369-8001
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)