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文献
J-GLOBAL ID:201502203633088851   整理番号:15A0924217

HfO2抵抗スイッチング素子に於ける,サブフォーミング処理段階でのデュアルバイポーラ抵抗スイッチング

Dual bipolar resistive switching in the sub-forming regime of HfO2 resistive switching devices
著者 (5件):
RECHER Shani
(Technion Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR)
YALON Eilam
(Technion Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR)
RITTER Dan
(Technion Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR)
RIESS Ilan
(Technion Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR)
SALZMAN Joseph
(Technion Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR)

資料名:
Solid-State Electronics  (Solid-State Electronics)

巻: 111  ページ: 238-242  発行年: 2015年09月 
JST資料番号: H0225A  ISSN: 0038-1101  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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