文献
J-GLOBAL ID:201502204453173628
整理番号:15A0830913
バルクとSOI FinFETにおける統計的変動に与える自己加熱の影響
Impact of Self-Heating on the Statistical Variability in Bulk and SOI FinFETs
著者 (8件):
WANG Liping
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
,
BROWN Andrew R.
(Gold Standard Simulations Ltd., Glasgow, GBR)
,
NEDJALKOV Mihail
(Technische Univ. Wien, Vienna, AUT)
,
ALEXANDER Craig
(Gold Standard Simulations Ltd., Glasgow, GBR)
,
CHENG Binjie
(Gold Standard Simulations Ltd., Glasgow, GBR)
,
MILLAR Campbell
(Gold Standard Simulations Ltd., Glasgow, GBR)
,
ASENOV Asen
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
,
ASENOV Asen
(Gold Standard Simulations Ltd., Glasgow, GBR)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
62
号:
7
ページ:
2106-2112
発行年:
2015年07月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)