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文献
J-GLOBAL ID:201502204621545366   整理番号:15A0907845

28nmCMOSプロセスにおける能動フィードバックによるESD保護クランプとミストリガ耐性

ESD Protection Clamp with Active Feedback and Mis-Trigger immunity in 28nm CMOS Process.
著者 (4件):
PARTHASARATHY Srivatsan
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
SALCEDO Javier A.
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
HERRERA Sandro
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
HAJJAR Jean-Jacques
(Analog Devices, Inc., MA, USA)

資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)

巻: 2015 Vol.2  ページ: 736-740  発行年: 2015年 
JST資料番号: A0631A  ISSN: 1541-7026  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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