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文献
J-GLOBAL ID：201502204621545366
整理番号：15A0907845
28nmCMOSプロセスにおける能動フィードバックによるESD保護クランプとミストリガ耐性
ESD Protection Clamp with Active Feedback and Mis-Trigger immunity in 28nm CMOS Process.
PARTHASARATHY Srivatsan
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
,
SALCEDO Javier A.
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
,
HERRERA Sandro
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
,
HAJJAR Jean-Jacques
(Analog Devices, Inc., MA, USA)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2015 Vol.2 ページ： 736-740 発行年： 2015年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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