前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:201502204847616908   整理番号:15A1140639

Sn-Bi-Agはんだを使ったLEDパッケージ部品の信頼性に与えるAg含有量の効果

Effects of Ag content on the reliability of LED package component with Sn-Bi-Ag solder
著者 (4件):
MYUNG Woo-Ram
(Sungkyunkwan Univ., SKKU Advanced Inst. of Nanotechnology (SAINT), 2066 Seobu-ro, Jangan-gu, 440-746, Suwon, KOR)
KO Min-Kwan
(Sungkyunkwan Univ., School of Advanced Materials Sci. and Engineering, 2055 Seobu-ro, Jangan-gu, 440-746, Suwon, KOR)
KIM Yongil
(Sungkyunkwan Univ., SKKU Advanced Inst. of Nanotechnology (SAINT), 2066 Seobu-ro, Jangan-gu, 440-746, Suwon, KOR)
JUNG Seung-Boo
(Sungkyunkwan Univ., School of Advanced Materials Sci. and Engineering, 2055 Seobu-ro, Jangan-gu, 440-746, Suwon, KOR)

資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)

巻: 26  号: 11  ページ: 8707-8713  発行年: 2015年11月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。