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文献
J-GLOBAL ID：201502204872668890
整理番号：15A0907880
FDSOI 28nmSRAMのアルファソフトエラー率:実験試験とシミュレーション解析
Alpha Soft Error Rate of FDSOI 28nm SRAMs: Experimental Testing and Simulation Analysis
MALHERBE Victor
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
MALHERBE Victor
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
GASIOT Gilles
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
SOUSSAN Dimitri
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
,
PATRIS Aurelien
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
AUTRAN Jean-Luc
(Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA)
,
ROCHE Philippe
(STMicroelectronics, Crolles, FRA)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2015 Vol.2 ページ： 915-920 発行年： 2015年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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