文献
J-GLOBAL ID:201502204899086087
整理番号:15A1035907
解凍器側面マスキングを用いたVLSI試験のためのハードウェア利用低温ソリューション
A Hardware Based Low Temperature Solution for VLSI Testing using Decompressor Side Masking
著者 (4件):
DUTTA Arpita
(Indian Inst. of Technol. Kharagpur, India)
,
KUNDU Subhadip
(Synopsys India Pvt. Ltd.)
,
CHATTOPADHYAY Santanu
(Indian Inst. of Technol. Kharagpur, India)
,
DAS Bijit Kumar
(Indian Inst. of Technol. Kharagpur, India)
資料名:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
(IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻:
2015 Vol.2
ページ:
637-640
発行年:
2015年
JST資料番号:
A0757A
ISSN:
0271-4302
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)