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文献
J-GLOBAL ID:201502205916593139   整理番号:15A0518618

25nm InP高電子移動度トランジスタプロセスを使用した1THzにおける増幅の初めての実証

First Demonstration of Amplification at 1THz Using 25-nm InP High Electron Mobility Transistor Process
著者 (12件):
MEI Xiaobing
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
YOSHIDA Wayne
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
LANGE Mike
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
LEE Jane
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
ZHOU Joe
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
LIU Po-Hsin
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
LEONG Kevin
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
ZAMORA Alex
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
PADILLA Jose
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
SARKOZY Stephen
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
LAI Richard
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)
DEAL William R.
(Northrop Grumman Corp., CA, USA)

資料名:
IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Letters)

巻: 36  号:ページ: 327-329  発行年: 2015年04月 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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