文献
J-GLOBAL ID:201502208118715500
整理番号:15A0828696
XPS/UPS/XANESと容量電圧測定により調べたダイヤモンドMOS界面の性質
Diamond MOS Interface Properties Studied by XPS/UPS/XANES and C-V Measurements
著者 (6件):
KASU M.
(Saga Univ., JPN)
,
HIRAMA K.
(NTT Basic Res. Lab., JPN)
,
HARADA K.
(Saga Univ., JPN)
,
IMAMURA M.
(Saga Univ., JPN)
,
TAKAHASHI K.
(Saga Univ., JPN)
,
SHIRAISHI K.
(Nagoya Univ., JPN)
資料名:
Program/Abstracts of ISSS (CD-ROM)
(Program/Abstracts of ISSS (CD-ROM))
巻:
7th
ページ:
ROMBUNNO.4PN-51
発行年:
2014年
JST資料番号:
L8395B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)