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文献
J-GLOBAL ID:201502208610150128   整理番号:15A0999880

(0001)サファイア基材に成長したβ-AlN薄膜の構造の評価

Structural Evaluation of β-AlN Films Grown on Sapphire (0001) Substrates
著者 (7件):
YOSHIDA Tomohiro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
YOSHIDA Tomohiro
(Kurume Nat. Coll. Tech., Kurume, JPN)
UEDA Yutaro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
DAIO Takeshi
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
TOMINAGA Aki
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
OKAJIMA Toshihiro
(Saga Light Source, Saga, JPN)
YOSHITAKE Tsuyoshi
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)

資料名:
Transactions of the Materials Research Society of Japan  (Transactions of the Materials Research Society of Japan)

巻: 40  号:ページ: 191-194  発行年: 2015年09月 
JST資料番号: L4468A  ISSN: 1382-3469  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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