文献
J-GLOBAL ID:201502208610150128
整理番号:15A0999880
(0001)サファイア基材に成長したβ-AlN薄膜の構造の評価
Structural Evaluation of β-AlN Films Grown on Sapphire (0001) Substrates
著者 (7件):
YOSHIDA Tomohiro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
YOSHIDA Tomohiro
(Kurume Nat. Coll. Tech., Kurume, JPN)
,
UEDA Yutaro
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
DAIO Takeshi
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
TOMINAGA Aki
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
,
OKAJIMA Toshihiro
(Saga Light Source, Saga, JPN)
,
YOSHITAKE Tsuyoshi
(Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名:
Transactions of the Materials Research Society of Japan
(Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻:
40
号:
3
ページ:
191-194
発行年:
2015年09月
JST資料番号:
L4468A
ISSN:
1382-3469
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)