文献
J-GLOBAL ID:201502208905484370
整理番号:15A0784565
SiO2膜による強化屈折率差のニオブ酸リチウムMach-Zehnder干渉計
Lithium-Niobate Mach-Zehnder Interferometer With Enhanced Index Contrast by SiO2 Film
著者 (4件):
CHEN Kai Xin
(Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
LI Xue Peng
(Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
ZHENG Yan Lin
(Univ. Electronic Science and Technol. China, Chengdu, CHN)
,
CHIANG Kin Seng
(City Univ. Hong Kong, HKG)
資料名:
IEEE Photonics Technology Letters
(IEEE Photonics Technology Letters)
巻:
27
号:
9-12
ページ:
1224-1227
発行年:
2015年05月01日
JST資料番号:
T0721A
ISSN:
1041-1135
CODEN:
IPTLEL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)