文献
J-GLOBAL ID:201502209240253662
整理番号:15A1061939
テラヘルツ周波数領域における走査型トンネル顕微鏡のチップ-試料間ギャップの電磁気的性質
Electromagnetic properties of scanning tunneling microscope tip-sample gap in the terahertz frequency range
著者 (4件):
UEHARA Yoichi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KATANO Satoshi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KUWAHARA Masashi
(AIST, Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI Tetsu
(Sendai National Coll. of Technol., Sendai, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
54
号:
8S2
ページ:
08LB06.1-08LB06.3
発行年:
2015年08月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)