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文献
J-GLOBAL ID：201502209250984320
整理番号：15A0841888
軟X線分光法によって探った酸素空孔を含むTi1-xFexO2-δ薄膜の電子構造
Electronic structure of Ti1-xFexO2-δ thin films with oxygen vacancies probed by soft X-ray spectroscopy
USUI Katsuya
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
YAMAGUCHI Shohei
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
SUZUKI Naoya
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
SHIMAZU Yuichi
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
TSUCHIYA Takashi
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
,
SAKAI Enju
(KEK, Ibaraki, JPN)
,
KOBAYASHI Masaki
(KEK, Ibaraki, JPN)
,
HORIBA Koji
(KEK, Ibaraki, JPN)
,
KUMIGASHIRA Hiroshi
(KEK, Ibaraki, JPN)
,
HIGUCHI Tohru
(Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 54 号： 6S1 ページ： 06FJ07.1-06FJ07.4 発行年： 2015年06月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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