文献
J-GLOBAL ID:201502210263410518
整理番号:15A0772572
高効率を実現するために研磨することによる実際のタンデム太陽電池におけるマイクロ結晶性深さプロファイリングの使用
Use of microcrystallinity depth profiling in an actual tandem silicon solar cell by polishing to achieve high conversion efficiency
著者 (4件):
HISHIDA Mitsuoki
(Panasonic Corp., Kyoto, JPN)
,
UENO Hiroyuki
(SANYO Electric Co., Ltd., Osaka, JPN)
,
SEKIMOTO Takeyuki
(Panasonic Corp., Kyoto, JPN)
,
TERAKAWA Akira
(Panasonic Corp., Osaka, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
54
号:
5
ページ:
052302.1-052302.5
発行年:
2015年05月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)