文献
J-GLOBAL ID:201502210565857448
整理番号:15A0486732
MEMSの信頼性:不良メカニズムの展望,改善ソリューションおよび開発レベルにおけるベストプラクティス
Reliability of MEMS: A perspective on failure mechanisms, improvement solutions and best practices at development level
著者 (1件):
IANNACCI Jacopo
(Center for Materials and Microsystems - CMM, Fondazione Bruno Kessler - FBK, Via Sommarive, 18, 38123 Povo, Trento, ITA)
資料名:
Displays
(Displays)
巻:
37
ページ:
62-71
発行年:
2015年04月
JST資料番号:
C0042B
ISSN:
0141-9382
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)