文献
J-GLOBAL ID:201502210662032942
整理番号:15A1187241
積層グラフェン量子ドットにおける測定反作用
Measurement Back-Action in Stacked Graphene Quantum Dots
著者 (6件):
BISCHOFF D.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
EICH M.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
ZILBERBERG O.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
ROESSLER C.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
IHN T.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
ENSSLIN K.
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
資料名:
Nano Letters
(Nano Letters)
巻:
15
号:
9
ページ:
6003-6008
発行年:
2015年09月
JST資料番号:
W1332A
ISSN:
1530-6984
CODEN:
NALEFD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)