文献
J-GLOBAL ID:201502210776575270
整理番号:15A1310246
標準的CMOSにおけるベースの再結合電流を用いるBJTプロセスの広がり補償
BJT Process Spread Compensation Utilizing Base Recombination Currernt in Standard CMOS
著者 (5件):
WANG Bo
(Hong Kong Univ. Sci. and Technol., HKG)
,
LAW Man Kay
(Macau Univ., Macau, CHN)
,
BERMAK Amine
(Hamad Bin Khalifa Univ., Doha, QAT)
,
BERMAK Amine
(Hong Kong Univ. Sci. and Technol., HKG)
,
TANG Fang
(Chongqing Univ., Chongqing, CHN)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
36
号:
11
ページ:
1111-1113
発行年:
2015年11月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)