文献
J-GLOBAL ID:201502210834954022
整理番号:15A0997949
アモルファスシリコンベース母材中に埋め込まれたシリコンナノ結晶の光学的特性評価と状態密度決定
Optical characterization and density of states determination of silicon nanocrystals embedded in amorphous silicon based matrix
著者 (5件):
VAN SEBILLE M
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
VASUDEVAN R A
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
LANCEE R J
(Eindhoven Univ. Technol., Eindhoven, NLD)
,
VAN SWAAIJ R A C M M
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
ZEMAN M
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
資料名:
Journal of Physics. D. Applied Physics
(Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻:
48
号:
32
ページ:
325302,1-9
発行年:
2015年08月19日
JST資料番号:
B0092B
ISSN:
0022-3727
CODEN:
JPAPBE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)