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文献
J-GLOBAL ID：201502210845792989
整理番号：15A0919904
検出器飽和の存在下でのイメージングSIMSデータの統計的に厳密な分析
Statistically rigorous analysis of imaging SIMS data in the presence of detector saturation
GELB Lev D.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
,
BAKHTIARI Layla A.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
,
WALKER Amy V.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
資料名：
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻： 47 号： 9 ページ： 889-895 発行年： 2015年09月
JST資料番号： E0709A ISSN： 0142-2421 CODEN： SIANDQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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