文献
J-GLOBAL ID:201502210845792989
整理番号:15A0919904
検出器飽和の存在下でのイメージングSIMSデータの統計的に厳密な分析
Statistically rigorous analysis of imaging SIMS data in the presence of detector saturation
著者 (3件):
GELB Lev D.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
,
BAKHTIARI Layla A.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
,
WALKER Amy V.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Texas at Dallas, Richardson, TX, 75080, USA)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
47
号:
9
ページ:
889-895
発行年:
2015年09月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)