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文献
J-GLOBAL ID：201502212907038421
整理番号：15A1279396
DNTTベースのMISキャパシタの周波数および時間依存性測定によるランダムに分布した電荷トラップの研究
Study of Randomly Distributed Charge Traps by Measuring Frequency- and Time-Dependence of a DNTT-Based MIS Capacitor
HAYASHI Toshiaki
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
TAKE Naoya
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
NAKANO Hayato
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
FUJIWARA Akira
(NTT Corp., Kanagawa, JPN)
,
SEKITANI Tsuyoshi
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SOMEYA Takao
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Journal of Display Technology
(Journal of Display Technology)
巻： 11 号： 7-9 ページ： 604-609 発行年： 2015年07月
JST資料番号： W1444A ISSN： 1551-319X CODEN： IJDTAL 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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