文献
J-GLOBAL ID:201502213057462950
整理番号:15A0907795
HfOxPRAMにおけるパルス化サイクリング可変性と耐性の理解
Understanding pulsed-cycling variability and endurance in HfOx RRAM
著者 (7件):
BALATTI S.
(Politecnico di Milano, Milano, ITA)
,
AMBROGIO S.
(Politecnico di Milano, Milano, ITA)
,
WANG Z.-Q.
(Politecnico di Milano, Milano, ITA)
,
SILLS S
(Micron Technol. Inc., ID, USA)
,
CALDERONI A.
(Micron Technol. Inc., ID, USA)
,
RAMASWAMY N.
(Micron Technol. Inc., ID, USA)
,
IELMINI D.
(Politecnico di Milano, Milano, ITA)
資料名:
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻:
2015 Vol.2
ページ:
461-466
発行年:
2015年
JST資料番号:
A0631A
ISSN:
1541-7026
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)