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文献
J-GLOBAL ID：201502214659337320
整理番号：15A0261370
原子間力顕微鏡の位相画像による高分子太陽電池の光活性層における相分離の定量的特徴付け
Quantitative characterization of phase separation in the photoactive layer of polymer solar cells by the phase image of atomic force microscopy
GAO H.L.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
,
ZHANG X.W.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
,
MENG J.H.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
,
YIN Z.G.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
,
ZHANG L.Q.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
,
WU J.L.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
,
LIU X.
(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100083, CHN)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 576 ページ： 81-87 発行年： 2015年02月02日
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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