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文献
J-GLOBAL ID：201502216252278977
整理番号：15A1057768
ミリメートル波長の金属スリットプローブを用いた近接場走査電子顕微鏡のコントラスト解析
Contrast analysis of near-field scanning microscopy using a metal slit probe at millimeter wavelengths
NOZOKIDO Tatsuo
(Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
,
ISHINO Manabu
(Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
,
SETO Ryosuke
(Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
,
BAE Jongsuck
(Dep. of Engineering Physics, Electronics, and Mechanics, Nagoya Inst. of Technol., Gokiso, Showa-ku, Nagoya 466-8555 ...)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 118 号： 11 ページ： 114905-114905-8 発行年： 2015年09月21日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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