文献
J-GLOBAL ID:201502217240348089
整理番号:15A1229799
周波数変調走査力顕微鏡法用のオートパイロット
Autopilot for frequency-modulation atomic force microscopy
著者 (3件):
KUCHUK Kfir
(Dep. of Physics and the Russell Berrie Nanotechnology Inst., Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
,
SCHLESINGER Itai
(Dep. of Physics and the Russell Berrie Nanotechnology Inst., Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
,
SIVAN Uri
(Dep. of Physics and the Russell Berrie Nanotechnology Inst., Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
86
号:
10
ページ:
103703-103703-5
発行年:
2015年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)