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文献
J-GLOBAL ID：201502217350330800
整理番号：15A0996049
CdZnTe X線及びガンマ線検出器に対する化学機械的研磨の効果
Effects of Chemomechanical Polishing on CdZnTe X-ray and Gamma-Ray Detectors
EGARIEVWE Stephen U.
(Alabama A&M Univ., Nuclear Engineering and Radiological Sci. Center, 35762, Normal, AL, USA)
,
EGARIEVWE Stephen U.
(Brookhaven National Lab., Dep. of Nonproliferation and National Security, 11973, Upton, NY, USA)
,
HOSSAIN Anwar
(Brookhaven National Lab., Dep. of Nonproliferation and National Security, 11973, Upton, NY, USA)
,
OKWECHIME Ifechukwude O.
(Alabama A&M Univ., Nuclear Engineering and Radiological Sci. Center, 35762, Normal, AL, USA)
,
GUL Rubi
(Alabama A&M Univ., Nuclear Engineering and Radiological Sci. Center, 35762, Normal, AL, USA)
,
GUL Rubi
(Brookhaven National Lab., Dep. of Nonproliferation and National Security, 11973, Upton, NY, USA)
,
JAMES Ralph B.
(Brookhaven National Lab., Dep. of Nonproliferation and National Security, 11973, Upton, NY, USA)
資料名：
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻： 44 号： 9 ページ： 3194-3201 発行年： 2015年09月
JST資料番号： D0277B ISSN： 0361-5235 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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