文献
J-GLOBAL ID:201502218048769786
整理番号:15A0958846
収差補正された走査透過電子顕微鏡法のためのモノクロメータの開発
Development of a monochromator for aberration-corrected scanning transmission electron microscopy
著者 (12件):
MUKAI Masaki
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
OKUNISHI Eiji
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
ASHINO Masanori
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
OMOTO Kazuya
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
FUKUDA Tomohisa
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
IKEDA Akihiro
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
SOMEHARA Kazunori
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
KANEYAMA Toshikatsu
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
SAITOH Tomohiro
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
,
HIRAYAMA Tsukasa
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
,
IKUHARA Yuichi
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
,
IKUHARA Yuichi
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名:
Microscopy
(Microscopy)
巻:
64
号:
3
ページ:
151-158
発行年:
2015年06月
JST資料番号:
W1384A
ISSN:
2050-5698
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)