文献
J-GLOBAL ID:201502218390663116
整理番号:15A1379269
マイクロスケール温度測定:レビュー
Microscale thermometry: A review
著者 (6件):
KIM Myeongsub Mike
(Dep. of Ocean and Mechanical Engineering, Florida Atlantic Univ., 777 Glades Road, Boca Raton, FL 33431, USA)
,
GIRY Alexandre
(Inst. Universitaire Technologique de LORIENT, departement de Genie Thermique et Energie (GTE), Univ. de Bretagne Sud ...)
,
MASTIANI Mohammad
(Dep. of Ocean and Mechanical Engineering, Florida Atlantic Univ., 777 Glades Road, Boca Raton, FL 33431, USA)
,
RODRIGUES Gustavo O.
(Dep. of Ocean and Mechanical Engineering, Florida Atlantic Univ., 777 Glades Road, Boca Raton, FL 33431, USA)
,
REIS Alessandro
(Dep. of Ocean and Mechanical Engineering, Florida Atlantic Univ., 777 Glades Road, Boca Raton, FL 33431, USA)
,
MANDIN Philippe
(Inst. Universitaire Technologique de LORIENT, departement de Genie Thermique et Energie (GTE), Univ. de Bretagne Sud ...)
資料名:
Microelectronic Engineering
(Microelectronic Engineering)
巻:
148
ページ:
129-142
発行年:
2015年12月01日
JST資料番号:
C0406B
ISSN:
0167-9317
CODEN:
MIENEF
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)