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文献

J-GLOBAL ID：201502218557458420 整理番号：15A0872199

干渉計反射率画像化センサ(IRIS)-多重化診断とデジタル検出のためのプラットフォーム技術

Interferometric Reflectance Imaging Sensor (IRIS)-A Platform Technology for Multiplexed Diagnostics and Digital Detection

著者 (5件)：

AVCI Oguzhan

(Boston Univ., MA, USA)

UENLUE Nese Lortlar

(Boston Univ., MA, USA)

UENLUE Nese Lortlar

(Bahcesehir Univ., Istanbul, TUR)

OEZKUMUR Ayca Yalcin

(Bahcesehir Univ., Istanbul, TUR)

UENLUE M. Selim

(Boston Univ., MA, USA)

資料名：

Sensors (Web) (Sensors (Web))

巻： 15 号： 7 ページ： 17649-17665 (WEB ONLY) 発行年： 2015年07月
JST資料番号： U7015A ISSN： 1424-8220 CODEN： SENSC9 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：文献レビュー発行国：スイス (CHE) 言語：英語 (EN)

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