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文献
J-GLOBAL ID：201502219870624370
整理番号：15A1234582
EM漏洩から暗号装置への故障注入時間の推定方法
Method for Estimating Fault Injection Time on Cryptographic Devices from EM Leakage
NAKAMURA Ko
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
HAYASHI Yu-ichi
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
HOMMA Naofumi
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
MIZUKI Takaaki
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
AOKI Takafumi
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
,
SONE Hideaki
(Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
資料名：
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
(IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻： 2015 Vol.1 ページ： 235-240 発行年： 2015年
JST資料番号： E0041A ISSN： 2158-110X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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