文献
J-GLOBAL ID:201502224024392478
整理番号:15A0327374
Kelvinプローブ力顕微鏡法による電極上の有機多層膜の表面電位測定
Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy
著者 (6件):
SATOH Nobuo
(Kyoto Univ.)
,
SATOH Nobuo
(Chiba Institure of Technol.)
,
KATORI Shigetaka
(Kyoto Univ.)
,
KOBAYASHI Kei
(Kyoto Univ.)
,
MATSUSHIGE Kazumi
(Kyoto Univ.)
,
YAMADA Hirofumi
(Kyoto Univ.)
資料名:
IEICE Transactions on Electronics (Web)
(IEICE Transactions on Electronics (Web))
巻:
E98.C
号:
2
ページ:
91-97 (J-STAGE)
発行年:
2015年
JST資料番号:
U0468A
ISSN:
1745-1353
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)