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文献
J-GLOBAL ID：201502225723822468
整理番号：15A0504464
各種の有機物で処理された土壌団粒のX線マイクロ断層撮影法を用いた構造調査
Structure investigation of soil aggregates treated with different organic matter using X-ray micro tomography
NAKANO Keiko
,
HERPPICH Werner B.
(Leibniz-Inst. Agrartechnik Potsdam-Bornim e.V., Potsdam, DEU)
,
KARDJILOV Nikolay
(Helmholtz Center Berlin for Materials and Energy, DEU)
,
MANKE Ingo
(Helmholtz Center Berlin for Materials and Energy (HZB))
,
HILGER Andre
(Helmholtz Center Berlin for Materials and Energy (HZB))
,
DAWSON Martin
(Univ. Salford, GBR)
,
MASUDA Kinya
,
HARA Yoshitaka
,
MATSUSHIMA Uzuki
(Iwate Univ., Morioka, JPN)
資料名：
Materials Testing
(Materials Testing)
巻： 57 号： 3 ページ： 234-238 発行年： 2015年
JST資料番号： D0278A ISSN： 0025-5300 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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