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J-GLOBAL ID：201502228954564541 整理番号：15A0628099

AlGaN/GaN Schottkyダイオードの信頼性に対するGaNキャップ層の効果

Effects of a GaN cap layer on the reliability of AlGaN/GaN Schottky diodes

著者 (15件)：

KANG He

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

WANG Quan

(School of Electronic Engineering, Xi′an Univ. of Posts & Telecommunications, Xi′an, P.R. China)

XIAO Hongling

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

WANG Cuimei

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

JIANG Lijuan

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

FENG Chun

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

CHEN Hong

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

YIN Haibo

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

QU Shenqi

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

PENG Enchao

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

GONG Jiamin

(School of Electronic Engineering, Xi′an Univ. of Posts & Telecommunications, Xi′an, P.R. China)

WANG Xiaoliang

LI Baiquan

(Beijing Huajin Chuangwei Technol. Co., Ltd., Beijing, P.R. China)

WANG Zhanguo

(Key Lab. of Semiconductor Materials Sci., Inst. of Semiconductors, Chinese Acad. of Sciences, Beijing, 100083, P.R. ...)

HOU Xun

(ISCAS-XJTU Joint Lab. of Functional Materials and Devices for Informatics, Beijing, 100083, P.R. China)

資料名：

Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science (Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science)

巻： 212 号： 5 ページ： 1158-1161 発行年： 2015年05月
JST資料番号： D0774A ISSN： 1862-6300 CODEN： PSSABA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：ドイツ (DEU) 言語：英語 (EN)

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