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文献
J-GLOBAL ID：201502230313523483
整理番号：15A0745857
ミュー粒子のX線測定による非破壊的元素深度プロファイル解析
Nondestructive Elemental Depth-Profiling Analysis by Muonic X-ray Measurement
NINOMIYA Kazuhiko
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KUBO Michael K.
(International Christian Univ., Tokyo, JPN)
,
NAGATOMO Takashi
(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)
,
HIGEMOTO Wataru
(Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN)
,
ITO Takashi U.
(Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN)
,
KAWAMURA Naritoshi
(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)
,
STRASSER Patrick
(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)
,
SHIMOMURA Koichiro
(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)
,
MIYAKE Yasuhiro
(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI Takao
(Shibaura Inst. of Technol., Saitama, JPN)
,
KOBAYASHI Yoshio
(Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
,
SAKAMOTO Shinichi
(Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN)
,
SHINOHARA Atsushi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SAITO Tsutomu
(National Museum of Japanese History, Chiba, JPN)
資料名：
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻： 87 号： 9 ページ： 4597-4600 発行年： 2015年05月05日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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