文献
J-GLOBAL ID:201502233686043278
整理番号:15A0397120
電子線誘起電流と透過型電子顕微鏡観察によるNbドープSrTiO3中の転位の研究
Investigation of dislocations in Nb-doped SrTiO3 by electron-beam-induced current and transmission electron microscopy
著者 (6件):
CHEN Jun
(WPI Center for Materials Nanoarchitectonics, National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0044, JPN)
,
SEKIGUCHI Takashi
(WPI Center for Materials Nanoarchitectonics, National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0044, JPN)
,
LI Jianyong
(Fukushima Renewable Energy Inst., Koriyama 963-0215, JPN)
,
ITO Shun
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
,
YI Wei
(Inst. of Physics and Beijing National Lab. for Condensed Matter Physics, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100190, CHN)
,
OGURA Atsushi
(Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Meiji Univ., Kawasaki 214-8571, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
106
号:
10
ページ:
102109-102109-4
発行年:
2015年03月09日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)